前言
“香山”是一款开源高性能RISC-V处理器，其微结构设计第一版代号为“雁栖湖”，具有11级流水线，性能评估SPECCPU分数达到7分/GHz；香山的第二版代号为南湖，主要改动包括①新的前端取值与分支预测设计；②优化的后端执行流水线；③新的non-inclusiveL2/L3Cache；④使用双核完成流片。初步性能评估结果显示，南湖能够在2GHz主频下达到SPECint18分，SPECfp20分的成绩。
香山处理器第一版（雁栖湖）已于年7月在28nm工艺节点下完成流片，在年1月回片，经过了一系列、跨春节的调试攻关，目前的调试目标已达成！香山性能优化后，在CPU1GHz+DDR4-配置下：SPECint7.02分，SPECfp6.94分，与预期性能评估高度一致！
图1雁栖湖的RTL-sim、FPGA、AISC实测及南湖RTL-sim的性能评估对比
香山处理器第二版（南湖）将在14nm工艺节点下完成流片；基于南湖微结构的香山处理器在整体SOC加入了DFT规格。我们必须在芯片的开发阶段就考虑可测试性的问题，这就是DFT（DesignforTest）问题。测试是通过控制和观察电路中的信号，确定电路是否正常工作的过程。可测试性设计技术的目的就是试图增加电路节点的可控制性和可观测性，从而有效地、经济地完成芯片的生产测试。
可测性设计（DFT）给整个测试领域开拓了一条切实可行的途径，目前国际上大中型IC设计公司基本上都采用了可测性设计的设计流程，DFT已经成为芯片设计的关键环节。在先进工艺下，芯片良率问题愈发突出；DFT除了服务于生产测试外，其灵活强大的诊断能力为芯片功能调试、芯片良率提升提供强有力的支撑！
香山处理器横空出世之后，在学界、业界、国内外备受
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